BIST、built-in self test

BIST | 日経クロステック(xTECH)

BISTはbuilt-in self testの略で,テスト容易化設計(DFT:design for testability)技術の一つである。BISTでは,LSIテスターの機能の一部をLSIチップ内に組み込む。具体的には,「テスト・パターンを発生する回路」と,「テスト結果と期待値を照合する回路」をLSIに集積する。

モリーに対するBISTを「メモリーBIST」,論理回路に対するBISTを「ロジックBIST」と呼ぶ。メモリー,ロジックの他にも,PLLなどのアナログ回路に対するBISTや,SerDesなどの高速I/O回路に対するBISTも考案されている。