Part Average Testing、PAT、パット

半導体製造装置用語集(検査 : Test)|一般社団法人 日本半導体製造装置協会

パット(PAT:Part Average Testing)
製品の品質向上を目的とし、基準内であっても、測定値の分布の母集団から大きく外れた潜在的な不良品を選別する手法。
(米国自動車工業会AEC-Q001によってガイドラインが定められている)