skewed lot ???
計測/テスト分野で進むWiMAX対応（2/2 ページ） - EDN Japan
テスト工程では、パッケージの品質検証や、通常のシリコンロットに加え、複数のスキューロットでの性能テストも実施される
のテストで行うことは、特性評価のそれとは異なる。テストプログラムは、実験室レベルでのスキューロットの完璧な特性評価、数回のテストによって多くのことを成し遂げるテストエンジニアの優れた能力、顧客の要望を受けて設計を担当するアプリケーションエンジニアからの連続的なフィードバックに基づいた、巧妙な折衷策なのだ-
プロトタイプやスキュー・ロット・サンプルなどの未認定デバイスには、いずれも「B」のマーキング位置に(TI型番に続けて)「X」を記したラベルが貼付されます。
-
周知のように、スキューロットは、一般的に半導体業界において、ウェハの製造に用いられるＦａｂ処理の少なくとも１つのＦａｂ処理パラメータの許容偏差（通常、＋／−３シグマ）全体にわたってばらつきを示すウェハの集合体またはパッケージングされたＩＣであると定義される。
