実践パワーエレクトロニクス入門 パワー半導体デバイス, p.239 加速試験とは「試験時間を短縮する目的で，基準条件より厳しい条件で行う試験」と定義される． (略)このため厳しいストレスを加え劣化要因を物理的・科学(ママ)的に加速し，短時間で製品の使用…

実践パワーエレクトロニクス入門 パワー半導体デバイス, p.236 品質という概念が従来，機能が初期の段階で正常かどうかを主に取り扱っていたのに対し，信頼性は時間の推移とともに機能が正常に維持されているかどうかを取り扱う．

実践パワーエレクトロニクス入門 パワー半導体デバイス, p.236 半導体製品では一般に故障率が非常に低いため，単位時間当たりの平均故障発生件数として，FIT (Failure In Time)を用いる．1FITは，1 000 000 000時間に平均1回の故障が発生することを表してい…

/アリーニアス, アレイニアス/ エンジニアの悩みを解決 パワーエレクトロニクス: パワーデバイスを使いこなす設計・計測・自動車への展開, p.169 アルミ電解コンデンサにおいては，電解液の蒸散速度が温度に対して指数関数的な依存性(アレニウス則)があるの…

/ディレイティング/ エンジニアの悩みを解決 パワーエレクトロニクス: パワーデバイスを使いこなす設計・計測・自動車への展開, pp.119-120 ディレーティング 安全制限領域は，(略)。しかしながら，この領域の最大値でデバイスを動作させると，デバイスへの…