Built-In Self Test (BIST)

BIST/DFTテスタとは｜技術コラム｜技術情報｜株式会社日本マイクロニクス

BISTは、テスト容易化設計（DFT：Design For Testability）技術の一つです。テスタ機能の一部である「テスト・パターンを発生する回路」と「テスト結果と期待値を照合する回路」をLSIチップの中に組み込むことで、テストそのものをチップ内の回路でおこなうことが可能です。BIST回路には、メモリを検査する「メモリBIST」、論理回路を検査するための「ロジックBIST」があります。