Arrhenius、Coffin Manson、Hallberg-Peck

• 3 信頼性試験 ｜サンケン電気

  温度加速モデル（アレニウスモデル）
  アレニウスモデルはスウェーデンの科学者アレニウスが提唱した、ある温度での化学反応の速度を予測するモデルで半導体の寿命推定に最もよく用いられます。

• アレニウスモデルによる電子部品の寿命予測｜株式会社アイテス | 株式会社アイテス

  一般的に半導体デバイスの劣化の物理、化学的な現象を表すには，アレニウスモデルが用いられます。
  アレニウスモデルは故障の温度依存に対する基本的な化学反応モデルであり，半導体デバイスの温度ストレスによる加速寿命試験の寿命推定に用いられています。

• https://www.denso-ten.com/jp/gihou/jp_pdf/53/53note2.pdf

  特に非線形ひずみ振幅と疲労寿命は、Coffin-Manson 則に従うことがわかっており、一般に以下の式で表される。

• https://home.jeita.or.jp/page_file/20200526181633_4fCp1lxIJG.pdf

  試験条件を決定するための加速式がある。 例えば，はんだ接合部の耐久性を評価する目的で本試験を適用する場合，代表的な加速式には，修正コフィン・マンソン（Modified Coffin-Manson）則が利用できる。

• https://www.nist.gov/system/files/documents/el/building_materials/Prediction-of-Moisture-Induced-Degradation-in-the-Field-for-Flexible-PV-Modules-Kedar-Hardika.pdf

  In consumer electronics industry Hallberg-Peck model [1] is used to predict performance against moisture induced failures.
  Hallberg, O., and Peck, D.S.